AT2E的SRG-1罐盖刻线剩余厚度检测仪用于检测罐盖刻线的剩余厚度。
采用高精度光学元件，以确保刻线轮廓图像的清晰度及测量的精度。配置的长焦距光学镜头，可更广泛地兼容测量各种不同刻线位置的盖型。
适用于各种不同的盖型：拉环盖（RPT），留片盖（SOT），全开盖（EO），等。
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采用高精度光学元件，以确保刻线轮廓图像的清晰度及测量的精度。配置的长焦距光学镜头，可更广泛地兼容测量各种不同刻线位置的盖型。
适用于各种不同的盖型：拉环盖（RPT），留片盖（SOT），全开盖（EO），等。
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